专业笔记本CPU测试治具设计开发 Intel CPU 7代U 测试治具 BGA测试治具
产品特点及性能参数:
1、治具采用的是手动翻盖式结构,操作方便,(可根据客户需求定制专款);
2、上盖的IC压板采用旋转按压式结构,下压平稳,保证测试的【CPU 7代U 】压力均匀,不移位;
3、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,不会损坏锡球;
4、高精度的定位槽或导向孔,保证【CPU 7代U】定位精确,测试效率高;
5、采用浮板结构,对于测试的【CPU 7代U】有球无球都能检测;
6、探针材料:铍铜(标准);
7、探针可更换,维修方便,成本较低;
8、绝缘材料:电木、FR4;
9、最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);
10、用途:用于测试笔记本CPU性能好坏 是否能正常使用。
11、可根据用户要求定做各种阵列的socket。
产品服务:
1、6个月免费保修(人为损坏除外),也可按实际测试要求商讨保修期;
2、成本价提供治具升级优化服务;
3、可长期免费提供相关的技术支持;
4、专业研发、制作各类IC测试治具,电脑CPU、南北桥、颗粒IC测试治具。
5、专业制作各型号【CPU 7代U】植球钢网
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万昇半导体测试治具(夹具)[http://www.ceshizhiju.cn/]。目前网站展示的产品信息并不全面,大部分芯片测试&治具开发服务产品并未一一发布,如果你有芯片测试&治具开发服务需求,请按下列方式联系我们,也可在线反馈你的需求,我们会在24小时内回复到您!